File:Kelvin probe force microscopy.svg
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日期/時間 | 縮圖 | 尺寸 | 使用者 | 備註 | |
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目前 | 2008年3月1日 (六) 16:53 | ![]() | 860 × 470(83 KB) | Inkwina | Fixed SVG |
2008年3月1日 (六) 16:21 | ![]() | 860 × 470(84 KB) | Inkwina | {{Information |Description=In Kelvin probe force microscopy, a conducting cantilever is scanned over a surface at a constant height while an AC+DC potential is applied. The AC signal is a sinu |
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