电子测试设备
![](http://images.weserv.nl/?url=//upload.wikimedia.org/wikipedia/commons/thumb/6/6a/Oscilloscope_Tektronix_7854_on_Tektronix_lab_cart_with_four_smaller_electronic_measurement_and_test_devices_underneath.jpg/220px-Oscilloscope_Tektronix_7854_on_Tektronix_lab_cart_with_four_smaller_electronic_measurement_and_test_devices_underneath.jpg)
电子测试设备是用来产生讯号来测试被测器件(DUT),以及记录被测器件的反应及相关资讯。电子测试设备可以用来证明被测器件可以正常运作,或是追踪器件的一些问题。要开发电子系统,电子测试设备是其中重要的一环。
实务上的电子工程以及组装需要许多不同种类的测试设备,从简单且低价的设备(例如由灯泡及测试探棒组成的测试灯),到复杂的设备(例如自动测试设备)。 自动测试设备(ATE)中一般会包括许多实际以及模拟的设备(例如示波器、电表)。
一般来言,电路及系统开发时,不论是在产品测试阶段,或是在实务应用现场针对现有机种进行排错,都需要许多的测试设备。
测试设备的分类
基本设备
![](http://images.weserv.nl/?url=//upload.wikimedia.org/wikipedia/commons/thumb/1/16/Voltmeter.jpg/220px-Voltmeter.jpg)
以下是量测电压、电流以及检测电流元件的基本量测设备。
以下是一些产生讯号的设备:
![](http://images.weserv.nl/?url=//upload.wikimedia.org/wikipedia/commons/thumb/a/a6/Digital_Multimeter_Aka.jpg/200px-Digital_Multimeter_Aka.jpg)
以下是分析电路反应的设备:
连接上述设备:
- 测试探针
- 隔离探棒针(isolation probe)
进阶或较少用的设备
量测仪表
采针
![](http://images.weserv.nl/?url=//upload.wikimedia.org/wikipedia/commons/thumb/4/4f/Tongtester.jpg/220px-Tongtester.jpg)
分析仪
- 逻辑分析仪(测试数位电路)
- 频谱分析仪(SA,量测信号各频率的能量)
- 通讯协定分析仪(针对特定通讯协定,测试机能性、性能,以及是否符合规范)
- 向量信号分析仪(VSA,有数位解调变的机能)
- 时域反射仪(测试长线的信号完整性)
- 半导体曲线追踪器
产生信号的设备
![](http://images.weserv.nl/?url=//upload.wikimedia.org/wikipedia/commons/thumb/e/ed/Leader_LSG-15_signal_generator.jpg/200px-Leader_LSG-15_signal_generator.jpg)
- 信号发生器,一般会依频率范围(音频或是无线电)或是波形种类(弦波、方波、锯齿波、三角波、调变波……)
- 频率合成器
- 函数发生器
- 数位模式产生器
- 脉波产生器
- 信号注入器(Signal injector)[1]
其他设备
平台
![](http://images.weserv.nl/?url=//upload.wikimedia.org/wikipedia/commons/thumb/2/27/Keithley-model4200-CVU.jpg/220px-Keithley-model4200-CVU.jpg)
目前有许多模组化的电子仪器平台,常用在建立自动化的电子测试和量测系统上。这些系统常用在进料检测、品质保证,或是电子产品半成品或成品的生产测试。工业标准的通讯介面会连结信号源以及量测设备,设备可能是在机柜系统,或是在机箱或大型机的系统,由外部电脑上执行的客制化软体所控制。
平台的通讯介面有分为GPIB/IEEE-488、LXI、VXI、PXI、USB、RS-232等介面。
测试设备切换
在测试系统中加入高速的切换系统可以在多个设备的测试时更快,更省成本,也可以减少错误以及成本。设计测试系统的切换组态需要了解要切换的设备,以及要进行的测试,也要知道切换设备的硬体资讯。
参考资料
- ^ Signal Injector Circuit. [2018-06-03]. (原始内容存档于2017-12-26).
外部链接
- LXI Consortium (页面存档备份,存于互联网档案馆)
- NIST’s 1588 Standard
- ICS Electronics. “GPIB 101A Tutorial About the GPIB Bus.”[永久失效链接], Retrieved December 29, 2009.
- Test and Measurement Glossary
- United Testing Systems Inc. (页面存档备份,存于互联网档案馆)